前言：DDR3眼图测试,时序测试,DDR一致性测试,DDR2一致性测试,高速电路板稳定性测试,,
考虑到有些JEDEC的测量要求三个或更多的测试点，加上其他信号如芯片选择信号、RAS和CAS可能需要确定存储器状态，许多工程师常常选择使用焊接式进行连接。
泰克公司开发了一种专为这种类型的应用设计的探测解决方案。P7500系列有4～20GHz的带宽，是存储器验证应用的选择。图3说明了几个可用的P7500系列前端之一，这种非常适合存储器验证的应用。这些微波同轴”前端在需要多个探测前端进行焊接情况时提供了有效的解决方案，同时提供的信号保真度和4GHz带宽，足已满足存储器DDR3@1600MT/s的测试需求。
P7500系列针对存储器测试应用的另一个优点是泰克专有的TriMode(三态)功能。这种独特的功能允许不但可以测试+和-差分信号，又可以测试单端信号。使用前端的三个焊接连接，用户就可以使用上控制按钮或在示波器菜单来对差分和单端探测模式之间进行切换。使用焊接的+连接到单端数据或地址线，使用焊接的-连接到另一相邻线。然后用户可以使用一个，通过两个单端测量模式之间切换，很容易地测量其中任何两个信号。
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