前言：LVDS测试,信号完整性测试,LVDS测试长度,完整性测试,接口一致性测试,,
上电时的操作流程顺序：
1.在FPGA*****板及相关设备断电的前提下，插上JTAG线接口；
2.插上USB Blaster或者ByteBlasterII的电缆；
3.接通FPGA*****板的电源。
下电时的操作流程顺序：
1.断开FPGA*****板及相关设备的电源；
2.断开USB Blaster或者ByteBlasterII的电缆；
3.拔下JTAG线接口，并放置适宜地方存储。
JTAG的英文名称为Joint Test Action Group，中文名字叫做联合测试工作组，是一种*****际标准测试协议(IEEE 1149.1兼容)，主要用于芯片内部测试及对系统进行在线仿真、调试，它在芯片内部封装了专门的测试电路 TAP ( Test Access Port ，测试访问口)，通过专用的JTAG测试工具对芯片进行测试。现在多数的**器件都支持JTAG协议，如以以ARM为核心的手机CPU、DSP、FPGA、CPLD等芯片都会带JTAG接口。标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。
JTAG 技术是一种嵌入式调试技术，JTAG*****初是用来对芯片进行测试的，JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP(Test Access Port；测试访问口)通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。如今，JTAG接口还常用于实现ISP(In-System Programmer，在系统编程)，对FLASH等器件进行编程。
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